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Über günstige Entwicklungsverfahren und Grenzauflösungsvermögen photographischer Platten für übermikroskopische Aufnahmen

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Zeitschrift für Physik

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Zusammenfassung

Die für die Beurteilung der Eignung einer Emulsion für übermikroskopische Aufnahmen wichtigste Größe ist die Bildpunktarbeit. Sie kann aus den gemessenen Werten der Empfindlichkeit, der Körnigkeit und der Steilheit der Emulsion berechnet werden. Für einige Emulsionen wird durch Variation der Entwicklersubstanz und der Entwicklungszeit ermittelt, welche Minimalwerte der Bildpunktarbeit erreicht werden können. Es zeigt sich, daß man bei der günstigsten und damit für die Übermikroskopie geeigneten Kombination (Agfa-Spektral-Blau-Hart-Platte, Agfa-Methol-Hydrochinon-Entwickler 25 min, großer Elektronendichtekontrast) zur Schwärzung eines Bildpunktes etwa 3 · 10−12 Ws benötigt. Im Gegensatz zu von anderer Seite vertretenen Auffassungen finden sich für die Agfa-Schumann-Hart-Platte wesentlich weniger günstige Ergebnisse, so daß zur Verwendung dieser Emulsion für übermikroskopische Aufnahmen auch wegen ihrer sonstigen Eigenheiten nicht geraten werden kann. Aus der minimalen Bildpunktarbeit lassen sich die Grenzen der Lebendmikroskopie errechnen: Es ergibt sich in Übereinstimmung mit einer früheren eigenen Untersuchung, daß mit dem Elektronenmikroskop auf der Grundlage der heute bekannten Emulsionen eine praktisch brauchbare Lebendmikroskopie hoher Auflösung nicht möglich ist. — Durch Aufnahme sehr scharfer, aber elektronenoptisch nur schwach vergrößerter Bilder von kolloidem Silber wird das Grenzauflösungsvermögen photographischer Platten unmittelbar bestimmt. Es erweist sich als in Übereinstimmung stehend mit dem aus Körnigkeit und Steilheit berechneten Auflösungsvermögen. Weiter wird gezeigt, daß man aus der Schwärzungsverteilung der Platte in Bereichen, die kleiner als das Auflösungsvermögen sind, keine Schlüsse mehr auf das abgebildete Objekt ziehen kann. In diesem Zusammenhang wird kritisch Stellung genommen zum Nachweis des Auflösungsvermögens von Elektronenmikroskopen aus elektronenoptisch ungenügend vergrößerten Bildern kleiner Objekte.

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Abbreviations

δ [cm]:

Auflösungsvermögen des Übermikroskops, bezogen auf das Objekt

δp [cm]:

Auflösungsvermögen der photographischen Platte, berechnet

δ p [cm]:

Auflösungsvermögen der photographischen Platte, entnommen aus Testaufnahmen

δ A [cm]:

Auflösungsvermögen des Auges

U [V]:

Strahlspannung

S [1]:

Schwärzung der photographischen Platte (über Schleier)

q0,5 [C/cm2]:

Ladungsdichte der Elektronen zur Hervorrufung der SchwärzungS=0,5

a 0,5[Ws/cm2]:

Arbeitsdichte der Elektronen zur Hervorrufung der SchwärzungS=0,5

A B [Ws]:

Bildpunktarbeit der Platte (Arbeit, die zur Schwärzung eines Bildpunktes erforderlich ist)

q 1 [C/cm2]:

Ladungsdichte im Endbild einer festzuhaltenden Objekteinzelheit

q 2[C/cm2]:

Ladungsdichte im Endbild der Umgebung der festzuhaltenden Einzelheit

q 2/q 1 [1]:

Elektronendichtekontrast im Endbild

Δ S[1]:

Schwärzungskontrast auf der photographischen Nachvergrößerung

γ0,5 [1]:

Steilheit der photographischen Platte beiS=0,5

γPap [1]:

Steilheit des zur Vergrößerung benutzten photographischen Papieres

K [1]:

Körnigkeit der photographischen Platte

V g [1]:

Zulässige Grenzvergrößerung der photographischen Platte

A e [1]:

Elektronenoptischer Abbildungsmaßstab des Übermikroskops

A l [1]:

Maßstab der nachträglichen Vergrößerung der Platte

x [cm]:

Dicke des Objekts

γ′ [g/cm3]:

Spezifisches Gewicht des Obiekts

P′[C cm2/g]:

Objektionisierungsfaktor, für Abtötung des Objekts maßgebend

HWD [r]:

Halbwertsdosis des lebenden Objekts (in Röntgen)

n [1]:

Anzahl der Aufnahmen bis zur 50%igen Abtötung

t [min]:

Entwicklungsdauer

ϑ [°C]:

Entwicklertemperatur

Authors

Additional information

Vierte Mitteilung über die Intensitätsverhältnisse am Übermikroskop. Erste bis dritte Mitteilung siehe Fußnoten 1) auf S. 540, 541 u. 544. Fünfte Mitteilung siehe Fußnote 1) S. 562.

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v. Borries, B. Über günstige Entwicklungsverfahren und Grenzauflösungsvermögen photographischer Platten für übermikroskopische Aufnahmen. Z. Physik 122, 539–572 (1944). https://doi.org/10.1007/BF01342775

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  • DOI: https://doi.org/10.1007/BF01342775

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