Summary
In addition to the microchemical analytical methods for surface research the field-ion microscope atom-probe allows identification of single atoms and even isotopes desorbed from the surface of metals and alloys, and analysis of the composition of the outermost atomic layers of alloys and the distribution of the components with depth in the crystals, by successive field evaporation. The histograms obtained for thin surface areas of pure molybdenum, the unordered alloys 75 Mo 25 W and 63 Ni 18 Fe 19 Mo, and for the ordered alloy 50 Pt 50 Co, are discussed.
Zusammenfassung
In Ergänzung zu den mikrochemischen Analysenmethoden bietet die Feldionenmikroskop-Atomsonde für Metalle und Legierungen die Möglichkeit der Identifizierung einzelner desorbierter Atome und sogar ihrer Isotope und der Ermittlung der Zusammensetzung in den obersten Atomlagen von Legierungen durch sukzessive Feldverdampfung der Atomlagen nacheinander. Es werden die für dünne Oberflächenschichten für reines Molybdän und die ungeordneten Legierungen 75 Mo 25 W und 63 Ni 18 Fe 19 Mo sowie für die geordnete Legierung 50 Pt 50 Co erhaltenen Histogramme diskutiert.
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References
E. W. Müller, J. A. Panitz, and S. B. McLane, Rev. Sci. Instr.39, 83 (1968).
E. W. Müller and T. T. Tsong, Field Ion Microscopy, Amsterdam: Elsevier. 1969.
E. W. Müller, Ber. Bunsenges.75, 979 (1971).
E. W. Müller and T. Sakurai, J. Vac. Sci. Technol.11, 878 (1974).
S. S. Brenner and T. T. McKinney, Surf. Sci.23, 88 (1970).
J. A. Panitz, Rev. Sci. Instr.44, 8, 1034 (1973).
P. J. Turner, B. J. Regan, and M. J. Southon, Vacuum22, 443 (1972).
J. A. Panitz, S. B. McLane, and E. W. Müller, Rev. Sci. Instr.40, 1321 (1969).
R. J. Walko and E. W. Müller, Phys. Status Solidi A 9, K9 (1972).
A. R. Waugh, E. D. Boyes, and M. J. Southon, Surf. Sci.61, 109 (1976).
S. B. McLane, S. Ng. Yee, J. Sweeney, and T. T. Tsong, Proc. 27th Field Emission Symposium I, 84 (1980).
E. W. Müller and S. V. Krishnaswamy, Phys. Rev. Letters37, 1011 (1976); Rev. Sci. Instr.45, 1053 (1974).
E. Krautz and M. Leisch, Proc. 7th Int. Vac. Congr. and 3rd Int. Conf. Solid Surfaces Vienna III, 2471 (1977).
T. M. Hall, A. Wagner, A. S. Berger, and D. N. Seidman, Scr. Metall.10, 485 (1976).
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Krautz, E., Leisch, M. Single-atom analysis of metals and alloys with the field-ion microscope atom-probe. Mikrochim Acta 74, 435–444 (1980). https://doi.org/10.1007/BF01197611
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF01197611